yy.vip易游-孔隙率分布测量仪及比表面仪

　　YYVIP易游·(中国有限公司)官方网站-

　　◆ BET比表面、外比表面、孔容孔径、孔面积、微孔分析等完备的数据报告；

　　◆ 超强的稳定性，即使意外断电、断线，亦不会丢失当前数据，且实验可恢复继续进行；

　　8、MK-plate法（平行板模型）孔容孔径分布（为BJH法的补充，适合对片层状结构材料分析）；

　　静态容量法孔隙率分布测量仪及比表面仪测试精度： 测试精度高、重现性好。重复性误差小于2%；

　　测试范围：比表面0.01m2/g以上，孔径0.35-400nm；样品类型:粉末,颗粒,纤维及片状材料等可装入样品管的材料。

　　静态容量法孔隙率分布测量仪及比表面仪分析站数量：具有2个样品分析站，1个P0测试站，2个样品脱气站；2个分析站具有独立的气路与压力传感器，支持同时进行不同样品不同过程的测试；

　　静态容量法孔隙率分布测量仪及比表面仪样品预处理： 主机自带一体式脱气装置，同时处理样品数量：2；两路脱气站具有独立温控，并具有独立定时功能，可支持与测试同步进行的不同温度与不同时间的样品脱气处理；

　　样品预处理模式：具有国内唯一的“普通加热抽真空分子扩散模式”和“分子置换模式”两种可选功能；分子置换模式相对分子扩散模式效率提高1倍以上，可节省一半以上的预处理时间，解决以往静态法样品制备时间长的问题；

　　静态容量法孔隙率分布测量仪及比表面仪测试效率： 智能投气量控制，中小吸附量样品2-3min/1个分压点，中大吸附量样品3-5min/1个分压点；BET多点法15-30min/2个样品；

　　BET单点法6-10min/2个样品；标准孔径测试60-120min/2个样品；精细孔径测试120-300min/2个样品；以上测试时间不包含样品预处理时间；

　　压力测试：压力测试范围0-1.6bar（0-160KPa），精度误差0.15%；--静态容量法孔隙率分布测量仪及比表面仪.

　　液氮面控制：具有液氮面伺服保持系统，消除测试过程中由于液氮挥发使液氮面变化而带来的死体积变化，提高测试精度；

　　图形化控制界面：亲和的控制监视界面，将复杂的仪器工作状态以结构图的形式展现，使仪器的工作状态一目了然，并可在结构图上对各个阀门、真空泵、氮杯升降梯温控等所有硬件进行操作，赏心悦目；--静态容量法孔隙率分布测量仪及比表面仪.

　　智能自检系统：仪器具有硬件自检和气路气密性自检功能，能够自动检测样品管是否安装、试管夹套是否拧紧，并检查并确定漏气位置，给出文字提示和语音提示。

　　语音提示：具有独特的智能语音提示功能；--静态容量法孔隙率分布测量仪及比表面仪

　　1、强大而稳定的控制系统；仪器具有实时的数据与状态保存功能，即使发生通讯中断、意外断电等意外情况，仪器重启后任然能够恢复测试数据，进入测试流程继续测试；

　　2、具有智能而安全的液氮杯升降控制系统，该系统的关键点在于，当发生意外断电或设备重启时，可以避免重启设备后操作人员冒然下降液氮杯，温度升高后，样品管内吸附气体迅速溢出，使样品管爆裂的危险；--静态容量法孔隙率分布测量仪及比表面仪

　　3、优化的真空泵启停管理系统，在测试过程中真空泵无需一直处于运行状态，减小噪音，延长线、详尽的仪器运行日志记录功能；该仪器运行日志在仪器运行过程中自动记录仪器的每一条命令与执行结果，包括阀门的开关、泵的启停，原始采集数据等，时间精确到秒。该日志为仪器的可靠运行与售后提供保障；--静态容量法孔隙率分布测量仪及比表面仪

　　1、等温线分析过程具有标准模式、精细模式和自定义模式可选；可进行吸附测试，吸附脱附测试，和直接进入脱附测试；多种测试理论可选；各个测试理论可任意选择吸附数据或脱附数据；

　　2、强大的数据管理与处理系统：所有测试的原始数据及计算结果以SQL数据库形式保存，支持按日期、操作者、样品名称等查找与筛选功能；支持导出为Excel格式；

　　比表面仪发展历程：3H-2000型系列仪器的最早型号为HPDAI-88型高效动态吸附仪，依据国家标准为GB/T 10722-2003(原GB/T 10722-1999)，该型号在1988年8月5日通过化工部科技局鉴定，技术鉴定证书编号为：【88】化科鉴定第48号。经过改进升级后3H-2000

　　型系列仪器在2002年12月16日通过国家标准物质研究中心的计量检测，证书编号为：计测字第 2002-（17）-017。2004年推出BET多点法教学用3H-2000II型;2005年推出3H-2000III型;2008年推出的全自动智能运行的3H-2000A型,以及BET原理的BET单点法的3H-

　　如有需要购买静态容量法孔隙率分布测量仪及比表面仪的厂家请联系北京专业生产静态容量法孔隙率分布测量仪及比表面仪的生产厂家--贝士德仪器科技（北京）有限公司 3H-2000PS2型静态容量法孔隙率分布测量仪及比表面仪